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菲希爾X射線測厚儀XAN215代理

菲希爾X射線測厚儀XAN215代理

簡要描述:
菲希爾X射線測厚儀XAN215代理,高性能X射線熒光測量儀,配有先進的硅漂移探測(SDD),可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

更新時間:2024-04-10

訪問量:670

廠商性質:經銷商

生產地址:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,綜合

菲希爾X射線測厚儀XAN215代理

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY特點:

◆ 具有通用應用特性的高級模式

◆ 4 倍電子調節光圈(準直儀),6 倍電子調節初級濾光鏡

◆ 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD) 的型號還適用于更復雜的多元素分析

◆ 由下至上的測量方向可以簡便地實現樣品定位

典型應用領域:

◆ 對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能層進行分析

◆ 示蹤原子法分析為消費者提供保護,例如,玩具中的鉛含量

◆ 在珠寶行業和手選工段中高精度要求的金屬合金鑒定

◆ 在高校和工業領域中的研究


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